X射線殘余應(yīng)力測定儀 XL-640

X射線殘余應(yīng)力測定儀，主要用于測定金屬構(gòu)件的殘余應(yīng)力，而殘余應(yīng)力是關(guān)乎機(jī)械構(gòu)件和工程的質(zhì)量、壽命的重要因素，因而該儀器在機(jī)械制造、水利水電、熱電核電、航空航天、核工業(yè)、石油化工、冶金、鐵路、交通等等行業(yè)，以及高等院校、科研單位，日益受到高度重視。其次本儀器還可測定鋼中殘余奧氏體含量，而殘奧含量會(huì)影響材料的疲勞強(qiáng)度和變形趨勢,所以在機(jī)械制造中亦普遍受到關(guān)注。近年來特別是軸承、齒輪、彈簧、軋輥等等制造行業(yè)，已把殘余應(yīng)力、殘奧含量測定當(dāng)成質(zhì)量控制的必需手段。另外還具備測定織構(gòu)和晶體定向的功能；因?yàn)槟軌蜥槍?shí)際工件進(jìn)行測試和分析，所以這項(xiàng)功能備受青睞。
本次參與競標(biāo)的金屬構(gòu)件殘余應(yīng)力無損檢測成套系統(tǒng)設(shè)備及軟件為愛斯特應(yīng)力技術(shù)有限公司研發(fā)生產(chǎn)的設(shè)備，其型號(hào)為XL-640型，該產(chǎn)品經(jīng)過20多年的市場考驗(yàn)，XL-640型在中國各大高校，研究所，高鐵行業(yè)，航空航天等應(yīng)用非常廣泛。

設(shè)備功能：適用于測試金屬材料的殘余應(yīng)力；殘余奧氏體含量測試。

整套設(shè)備詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)：

1、正確的側(cè)傾法（或稱為χ法），免除吸收因子影響。

2、被測材料：標(biāo)配Cr靶X射線管，CrKα輻射適合于鐵素體型鋼、鋁合金、鎂合金、硬質(zhì)合金等等材料；CrKβ輻射適用于奧氏體不銹鋼、高溫合金、銅等等材料。Cu靶、Mn靶X射線管可更換。

3、高壓電源：功率30kV×10mA。

4、探測器：硅微帶線陣探測器，640通道。

5、2θ范圍：118°～169°。

6、ψ角范圍：±45°。

7、準(zhǔn)直管：內(nèi)徑為（?0.5/?1/?1.5/?2/?3/?4ｍｍ）

8、測試點(diǎn)定位：采用激光定位器。

9、X射線管冷卻系統(tǒng)：封閉恒溫循環(huán)水箱。

10、電源：2000W，220V，50Hz。

11、整機(jī)測量精度：

對于無應(yīng)力鐵粉，使用CrKα輻射和（211）晶面，儀器連續(xù)測試不少于5遍，所得應(yīng)力平均值應(yīng)在±14MPa以內(nèi)，其標(biāo)準(zhǔn)差宜不大于14MPa （符合美國標(biāo)準(zhǔn)ASTM E915-2010、歐盟標(biāo)準(zhǔn)EN 15305 2008和國標(biāo)GB7704-2017）。

12 臺(tái)式支架：實(shí)現(xiàn)三維平移，垂直（Z 方向）行程≥110mm，X方向行程≥110mm，Y方向行程≥110mm。

13 軟件功能：

13.1 在所選X射線管靶材合適的前提下，在Windows環(huán)境，用戶只需選定和確認(rèn)被測材料類型，

其余所有測試參數(shù)將自動(dòng)確定。

13.2 自動(dòng)升起X 射線管高壓，自動(dòng)完成測量全過程，隨時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理。

13.3 測試完畢自動(dòng)關(guān)閉X 射線管高壓，輸出測試結(jié)果，生成實(shí)驗(yàn)報(bào)告。

XL-640型X射線應(yīng)力儀測角儀結(jié)構(gòu)：
測角儀側(cè)傾法結(jié)構(gòu)。其主要特點(diǎn)：（1）2θ平面與ψ平面相垂直；（2）使入射線與線陣探測器的垂直平分線關(guān)于ψ平面對稱分布；（3）對于不同的材料、靶材和衍射角，需要改變2θ范圍時(shí)，采用步進(jìn)電機(jī)、鋼帶傳動(dòng)，同步地、對稱地改變X射線管和探測器的位置，維持正確的側(cè)傾法衍射幾何布置。

探測器：
瑞士DECTRIS公司的微帶X射線探測器（Microstrip X-ray Detectors）。該探測器的接收部分由640硅微帶組成，每條硅微帶的寬度為50μm，能夠靈敏地接收達(dá)到一定能量閾值的單個(gè)X光子，實(shí)現(xiàn)無噪聲單光子計(jì)數(shù)，抗輻射、免維護(hù)和無限壽命的特點(diǎn)。

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